스크랩

구간

주사전자현미경 분석과 X선 미세분석 [3판]

윤존도, 양철웅, 김종렬 외 저 | 교문사 | 2021년 03월

북트리

정가
$44.00
판매가
$24.20 (45%↓) 최저가 보상
적립금
$0.48 (2%P)
출고예상일
2026년 10월 07일 수령예상일 안내
재고수
인터넷(1)
북카트 담기 바로구매하기 위시리스트담기

평점 -  ·  리뷰 0

리뷰 쓰기

ISBN : 9788936320751 / 330쪽 188 x 257 (㎜)

이 상품에 궁금하신점이 있으세요? 1:1상담문의

추천inside
Adobe Flash Player 가져오기

이 분야의 베스트셀러

아래의 도서와 구매하시면 이 도서들의 적립금을 즉시적용해 드립니다.

  • 16,200
  • 22,500
  • 26,100
  • 22,500

책 소개

반디앤루니스 리뷰

주사전자현미경 분석학과 X선 미세분석학을 전공한 전문가들이 전자현미경 분석 과학기술의 발전과 전파를 위해 펼쳐낸 책이다. 1장에서 5장까지는 주사전자현미경 분석에 관한 내용이고 6~8장은 X선 미세분석에 관한 내용, 9장은 시료와 진공 관련 내용을 담고 있다.
금속, 세라믹, 고분자, 반도체, 천연광물, 섬유, 생물, 의학, 바이오, 화학, 물리, 환경, 기계, 전기전자 등 연구를 수행하며 재료와 물질의 미세구조, 결함구조, 내부구조, 표면구조, 성분, 불순물 등을 분석하려는 연구자들의 연구에 도움이 되는 내용이 가득하다. 소재 부품의 품질과 결함을 관찰하고 혹시 있을 파괴 원인을 분석하는 품질관리 담당자나 수질 석면 등 환경 오염 원인을 분석하는 환경관리 담당자들에게도 도움이 될 것이다.

출판사 리뷰

저자 소개

  • 저자 : 윤존도, 양철웅, 김종렬 외
저자 : 윤존도
경남대학교 나노신소재공학과 교수
공학박사, 전자현미경 분석학
서울대 학사, 서울대 대학원 석사
미국 리하이대학교 대학원 박사(재료과학공학)

저자 : 양철웅
성균관대학교 신소재공학부 교수
공학박사, 전자현미경 분석학
서울대 학사, 서울대 대학원 석사
미국 리하이대학교 대학원 박사(재료과학공학)

저자 : 김종렬
한양대학교 재료공학과 교수
공학박사, 전자현미경 분석학
서울대 학사, 서울대 대학원 석사
미국 일리노이대학교(어바나샴페인) 대학원 박사(금속공학)

저자 : 이석훈
한국기초과학지원연구원 책임연구원
전자현미경 분석과학 명장
이학박사, 엑스선 미세분석학
서울대 학사, 서울대 대학원 석사.박사(지질과학)

저자 : 박용범
순천대학교 미래전략신소재공학과 교수
공학박사, 재료결정학
서울대 학사, 서울대 대학원 석사.박사(금속공학)

저자 : 권희석
한국기초과학지원연구원 연구장비운영부 책임연구원
이학박사, 생물학, 세포미세구조학
한양대 학사, 한양대 대학원 석사.박사(세포생물학)

목차

1 주사전자현미경 입문
2 주사전자현미경의 전자 광학
3 전자빔과 시편의 상호작용
4 신호처리 및 영상형성의 원리
5 특수 콘트라스트 및 영상 기법
6 X선 분광분석학의 개요
7 X선 분광분석기 및 정성분석
8 X선 분광 정량분석 이론 및 응용
9 시편 제작 및 진공 장치

top